En la actualidad el sector industrial requiere de t cnicas que permitan el an lisis de sus productos sin contacto, o en la l nea de producci n, en muchos de los casos la calidad de objetos transparentes como acr licos, vidrios, lentes, espejos entre otros, debe ser medida con una precisi n del orden de micr metros es decir, que no tengan desviaciones o errores mayores de la longitud de onda; en otros sectores algunas muestras org nicas microsc picas tambi n deben ser cuantificadas, a n sin contar con microscopios de potencia, por lo que un problema de inter s es medir las deformaciones de estas superficies u objetos respecto a una referencia o forma ideal. En este libro se presenta un sistema interferom trico para analizar estructuras transparentes y que son de inter s para el sector industrial; para este fin se implement una t cnica de corrimiento de fase por polarizaci n para obtener la informaci n de las deformaciones ocasionadas por el objeto transparente.Se presentan los resultados obtenidos con microestructuras transparentes. Esta investigaci n forma parte de la Iniciativa de Creaci n de la Primera Ingenier a en ptica y Fot nica de Iberoam rica.