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L'oxyde d'hafnium pour la microélectronique

AUTHOR Garros-X
PUBLISHER Omniscriptum (02/28/2018)
PRODUCT TYPE Paperback (Paperback)

Description
Du fait de sa grande constante di lectrique et sa large bande interdite, l'oxyde d'hafnium a r cemment t propos pour remplacer l'oxyde thermique classique. Le but de cette th se tait de faire un point sur les propri t s lectriques de ce nouveau mat riau et de mieux comprendre les difficult s rencontr es par l'industrie de la micro lectronique pour int grer cet oxyde alternatif dans les futurs transistors CMOS. Cette th se est organis e en quatre chapitres. Chacun d'entre eux est consacr une propri t lectrique essentielle de l'empilement haute permittivit L'EOT (Epaisseur Equivalente Oxyde), la conduction travers l'isolant, les d fauts lectriques dans l'oxyde et la fiabilit du di lectrique.
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Product Format
Product Details
ISBN-13: 9786131580376
ISBN-10: 6131580375
Binding: Paperback or Softback (Trade Paperback (Us))
Content Language: French
More Product Details
Page Count: 304
Carton Quantity: 26
Product Dimensions: 6.00 x 0.68 x 9.00 inches
Weight: 0.99 pound(s)
Country of Origin: FR
Subject Information
BISAC Categories
Technology & Engineering | Electronics - General
Technology & Engineering | General
Descriptions, Reviews, Etc.
publisher marketing
Du fait de sa grande constante di lectrique et sa large bande interdite, l'oxyde d'hafnium a r cemment t propos pour remplacer l'oxyde thermique classique. Le but de cette th se tait de faire un point sur les propri t s lectriques de ce nouveau mat riau et de mieux comprendre les difficult s rencontr es par l'industrie de la micro lectronique pour int grer cet oxyde alternatif dans les futurs transistors CMOS. Cette th se est organis e en quatre chapitres. Chacun d'entre eux est consacr une propri t lectrique essentielle de l'empilement haute permittivit L'EOT (Epaisseur Equivalente Oxyde), la conduction travers l'isolant, les d fauts lectriques dans l'oxyde et la fiabilit du di lectrique.
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