Principes fondamentaux et applications de la microscopie à force atomique
| AUTHOR | Mishra, Pramita; Dasadiya, Abhay; Solanki, Vanarajsinh |
| PUBLISHER | Editions Notre Savoir (05/05/2022) |
| PRODUCT TYPE | Paperback (Paperback) |
Description
Ce livre se concentre sur le principe de fonctionnement de l'AFM, ses différents modes (c'est-à-dire les modes contact, non contact et tapotement), l'analyse de certains résultats AFM et quelques applications également. Ce livre souligne également les caractéristiques de l'AFM en tant qu'outil morphologique très polyvalent et utile pour scanner une grande variété de surfaces, avec une résolution planaire allant du nano -mètre à l'échelle atomique. Nous espérons que ce livre pourra aider les chercheurs et les étudiants à comprendre le concept de base de l'AFM et à l'utiliser pour différents types d'échantillons.
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Product Format
Product Details
ISBN-13:
9786204698045
ISBN-10:
6204698044
Binding:
Paperback or Softback (Trade Paperback (Us))
Content Language:
French
More Product Details
Page Count:
52
Carton Quantity:
136
Product Dimensions:
6.00 x 0.12 x 9.00 inches
Weight:
0.20 pound(s)
Country of Origin:
US
Subject Information
BISAC Categories
Computers | Operating Systems - General
Descriptions, Reviews, Etc.
publisher marketing
Ce livre se concentre sur le principe de fonctionnement de l'AFM, ses différents modes (c'est-à-dire les modes contact, non contact et tapotement), l'analyse de certains résultats AFM et quelques applications également. Ce livre souligne également les caractéristiques de l'AFM en tant qu'outil morphologique très polyvalent et utile pour scanner une grande variété de surfaces, avec une résolution planaire allant du nano -mètre à l'échelle atomique. Nous espérons que ce livre pourra aider les chercheurs et les étudiants à comprendre le concept de base de l'AFM et à l'utiliser pour différents types d'échantillons.
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